当前位置:首页 > 产品展示 > 冷热冲击试验箱 > 两槽式冷热冲击试验箱 > 电子元器件冷热冲击试验箱 可靠性测试设备
详情介绍
电子元器件冷热冲击试验箱是一款高精度环境可靠性测试设备,主要用于测试电子元器件、组件及材料在温度急剧变化下的耐受能力与性能稳定性。箱体采用高强度不锈钢内胆与高效保温层,配备独立高温区、低温区和样品提篮或气动风门切换系统,支持触摸屏智能控制与数据记录。
该设备用于模拟产品在存储、运输及使用中可能遇到的剧烈温度变化环境,评估其热应力耐受性和失效模式,常用于产品设计验证、质量控制及可靠性鉴定。
温度冲击范围:-65℃~+150℃
高温区预热温度:+60℃~+200℃
低温区预冷温度:-10℃~-75℃
温度恢复时间:≤5分钟
温度波动度:≤±0.5℃
温度均匀度:≤±2℃
试验样品提篮承重:5~50kg(按型号)
内箱容积:50L、80L、150L、225L、500L可选
采用两箱式或三箱式结构,通过高温区、低温区的独立存储及快速切换风门或提篮移动,使样品在极短时间内(数秒至数十秒)从高温环境转入低温环境或反之,形成温度冲击。控制系统依据设定循环次数与驻留时间自动运行,并实时调节冷热补偿量。
高低温快速冲击,温度恢复时间短
可编程多步骤循环试验(如GJB 150.5、MIL-STD-810、JEDEC标准)
触摸屏+PLC控制,支持曲线显示与USB导出
多重安全保护:超温、过流、缺相、漏电保护
故障自诊断与报警提示
常见于电子元器件生产车间、第三方检测实验室、研究所质检中心,例如对贴片电容、IC芯片、PCB板、继电器、连接器进行热疲劳测试,也可用于动力电池模块的极限环境验证。
大功率制冷机组与高效加热器协同控制
独特风道设计,减少温冲过冲
低结霜设计,长期运行稳定性高
支持远程监控与数据追溯
广泛应用于消费电子、汽车电子、航空航天电子、通信设备、医疗电子仪器、新能源及半导体行业,满足产品认证与可靠性提升需求。



