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快速温变试验箱 老化测试设备
参考价:¥99400

型号:TEB-225PF

更新时间:2024-12-26  |  阅读:262

详情介绍

快速温变试验箱 老化测试设备

产品用途
温度快速变化试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高温低温快速变化的环境下、检验其各性能项指标。

1 整个箱体采用整体结构。箱体结构
2 箱体内侧采用1.0mm进口SUS304B不锈钢板,外侧采用1.0mm 冷轧钢板喷塑,保温材料采用超细玻璃保温棉。
3 大门密封采用双层硅橡胶密封材料。
4 观察窗为多层导电膜钢化中空玻璃,尺寸大小为350×500mm为防止低温时玻璃结霜,特设内置式特制安全电压发热丝环绕加热带供电电压36V,并设有照明灯,为观察提供照明。
5 在箱体侧面设有带塞子的φ50mm测试孔,塞子材料为硅橡胶低发泡,能耐高低温,兼具保温效能。
6 在箱体工作室后侧设置有一个空气调节柜,在其间安装 加湿器、蒸发器、电加热器、风机、风机蜗壳等设备。
7 温度传感器置于出风口。
8 试验箱内的送风方式为上送风下回风方式制冷系统

快速温变试验箱 老化测试设备

技术参数:

1.温度范围 :-85 ~ 150℃/-60~ 150℃/-50~ 150℃/-40~ 150℃/-20~ 150℃。
2.快速温变范围:-85机型:-75~ 85℃

   -70机型: -65~ 85℃

   -60机型:-55~ 85℃

   -50机型:-45~ 85℃

   -40机型:-35~ 85℃

   -20机型:-15~ 85℃

3.升降温速率:2℃/分钟,3℃/分钟,5℃/分钟,8℃/分钟,10℃/分钟,15℃/

分钟线性平均或非线性平均
4.控制稳定度 : ±0.5℃
5.分布均匀度:±1.5℃
6.温度偏差:≤±2℃
7.正常升温时间:20℃~ 150℃小于45分钟。
8.正常降温时间:20~-85℃小于100分钟,20~-60℃小于70分钟,20~-50℃小

于65分钟 20~-40℃小于60分钟, 20~-50℃小于45分钟

快速温变试验箱 老化测试设备

标准:

GB/T2424.1-2015环境试验

GB/T2424.2-2015电工电子环境试验箱:湿热试验导则。

GB/T2424.5-2021环境试验 第3部分

GB/T2424.6-2021环境试验 第3部分

GB/T2424.7-2006电工电子产品环境试验

GB/T2424.27-2013环境试验

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验试验A:低温

GB/T2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

GJB150.3-2009 设备环境试验方法 高温试验

GJB150.4-2009 设备环境试验方法 低温试验

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