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电子封装快速温变试验箱,温变应力测试设备
参考价:¥50000

型号:TEA-225PF

更新时间:2025-06-19  |  阅读:343

详情介绍

电子封装快速温变试验箱,温变应力测试设备

产品详情

设备采用全钢结构外壳,表面经防腐喷涂处理,内部工作室选用 304 不锈钢材质,耐酸碱腐蚀且便于清洁。搭载 7 英寸彩色触摸屏人机界面,可实时显示温湿度曲线、控制参数及故障报警信息,配备 RS485 通信接口与 USB 数据导出功能,支持与上位机软件联动,实现远程监控与数据管理。设备整体采用防结露设计,保温层为高密度聚氨酯发泡材料,确保良好的隔热性能。

电子封装快速温变试验箱,温变应力测试设备


电子封装快速温变试验箱,温变应力测试设备

核心用途

在电子封装研发中,可对 BGA、QFP 等封装形式的芯片进行温变应力测试,评估封装材料与芯片间的热匹配性,优化封装工艺参数。生产过程中,用于批量电子封装器件的热应力筛选,检测焊点开裂、封装变形等潜在缺陷,提高产品良率。失效分析时,通过模拟实际使用中的温变工况,复现封装失效模式,辅助定位热应力集中点。此外,还可用于研究电子封装在高低温循环下的疲劳寿命,为封装结构优化和材料选型提供数据支持。
技术参数
温度控制范围为 - 55℃~+150℃,满足电子封装器件的严苛测试需求;温变速率可达 10 - 50℃/min(非线性),支持快速温变应力测试;控温精度 ±0.3℃,温度均匀度 ±1.5℃,确保测试结果的准确性。湿度控制范围 20% - 95% RH(温度≥25℃),控制精度 ±3% RH。工作室尺寸常见规格为 600×800×600mm,可容纳多种电子封装测试夹具,支持定制化尺寸设计。升温速率≥5℃/min,降温速率≥5℃/min,满足不同测试标准要求。
高效制冷系统
制冷系统采用半封闭双级压缩机制冷,搭配环保型制冷剂 R404A 与 R23,确保 - 55℃低温环境的稳定维持。采用二元复叠制冷技术,高温级与低温级压缩机独立运行,通过智能分阶控制,实现不同温区的高效制冷。配备油分离器与气液分离器,防止压缩机奔油与液击现象,系统还设有压缩机过电流保护、冷凝器超压保护等多重安全保护装置。



智能加湿系统

加湿系统采用不锈钢护套式电热管加热加湿罐内的水,产生纯净蒸汽后通过管道送入工作室,湿度响应时间≤5min。配备自动水位控制与缺水保护功能,水箱容量 20L,可满足长时间测试需求。除湿方式采用冷冻除湿,通过降低蒸发器温度使水汽冷凝排出,在低温环境下仍能有效控制湿度。
工作原理
设备基于 PLC 可编程控制器为核心控制单元,通过温度传感器 PT100 实时采集工作室温度,经 PID 算法计算后,控制制冷系统与加热系统协同工作。温变应力测试时,按预设的温变曲线(如 - 40℃~125℃循环),通过压缩机的启停与电加热管的功率调节,实现温度的快速升降。强制送风系统使工作室内空气循环流动,保证温湿度均匀性。当进行湿度控制时,加湿系统根据湿度传感器信号,自动调节加湿量,除湿时则启动制冷系统进行冷凝除湿,从而实现温湿度的精准控制,为电子封装器件提供稳定的温变应力测试环境。


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