当前位置:首页 > 产品展示 > 冷热冲击试验箱 > 三槽式冷热冲击试验箱 > TSD-50F-3P可程式冷热冲击试验箱 性能稳定
详情介绍
该设备主要用于电子元器件、汽车部件、航空航天产品、新材料及LED等行业,检验产品在温度剧烈冲击下的物理、化学性能变化,以及潜在失效,是产品研发、质量控制和出厂检验的关键环节。
核心参数通常包括:温度范围(如-65℃至+150℃),转换时间(通常<10秒),温度恢复时间(<5分钟),内箱尺寸可根据需求定制(如50L至1000L),满足各类测试标准(如GB/T、IEC、MIL)。
三箱式或两箱式结构:实现高低温区的快速、独立转换,测试样品不移动,提升稳定性。
可程式控制:用户可编程复杂温度循环曲线,实现全自动测试。
高效制冷/加热系统:确保极速升降温和温度精准稳定。
多重安全保护:具备超温、过流、样品异常等多重报警与防护功能。
广泛应用于半导体IC、PCB电路板、通讯设备、金属材料、橡胶塑料等领域的耐环境应力筛选(ESS)试验。
转换迅捷精准:极快的温度转换与恢复能力,严格符合测试规范,揭露产品缺陷效率高。
操作智能便捷:大屏触摸屏人机界面,程序编辑简单,历史数据可存储追溯。
坚固耐用:内外箱体采用优质不锈钢,保温层厚实,能效比高,长期使用故障率低。




