紫外线老化箱 PCB 板连接器抗老化性能测试
产品详情
本紫外线老化箱专为 PCB 板连接器抗老化性能测试设计,通过模拟自然环境中的紫外线辐射,加速连接器材料老化过程,精准评估其在长时间光照下的性能变化,帮助企业与科研机构快速验证产品质量,缩短研发与质检周期。设备具备高精度控温、辐照强度可调等特性,确保测试数据准确可靠。

紫外线老化箱 PCB 板连接器抗老化性能测试
用途
广泛应用于电子设备,其在长期使用中受紫外线照射易出现材料降解、绝缘性能下降等问题。本老化箱用于:检测连接器外壳及内部绝缘材料的耐候性;验证镀层抗紫外线腐蚀能力;评估连接器在紫外线环境下的电气性能稳定性;辅助企业优化材料选型与工艺设计,提升产品在户外、车载等强紫外线环境下的使用寿命与可靠性。
技术参数
基本结构
设备由试验箱体、紫外线辐照系统、温湿度控制系统、样品架及智能控制系统组成。紫外线辐照系统均匀分布于箱体顶部,确保试样受光均匀;样品架采用旋转或层架设计,方便批量测试;智能控制系统集成触摸屏操作界面,支持多组程序预设与实时数据记录。



工作原理
通过高强度紫外灯管发射特定波长紫外线,模拟自然光照环境,加速 PCB 板连接器材料的光化学反应。同时,温湿度控制系统协同工作,营造高温高湿的恶劣条件,进一步加速老化过程。设备通过监测试样在老化过程中的物理(如变色、开裂)与电气性能(如绝缘电阻、接触电阻)变化,评估其抗老化能力。
箱体结构与材质
箱体采用双层结构,外层为优质冷轧钢板静电喷塑,防锈耐蚀;内层为 SUS304 不锈钢,耐高温、抗紫外线腐蚀,且易清洁。箱体夹层填充高效保温材料,减少热量散失。观察窗采用特殊防紫外线玻璃,可实时观测试样状态,同时防止紫外线外泄。箱门配备硅橡胶密封条,确保箱体密封性,维持内部环境稳定。