当前位置:首页 > 产品展示 > 冷热冲击试验箱 > 两槽式冷热冲击试验箱 > TSD-100F-2PPCB电路板可靠性测试冷热冲击试验箱
详情介绍
本设备是专为评估PCB电路板、电子元器件及焊接点在高低温环境快速变化下的耐久性、抗疲劳性及可靠性而设计的精密测试仪器。它通过模拟严苛的温度骤变条件,精准暴露产品潜在的材料缺陷、热膨胀系数不匹配导致的断裂、焊点开裂等工艺缺陷,是提升电子产品品质与寿命的关键检测设备。
设备采用国际主流、对测试样品极其友好的三箱式(预热区、预冷区、测试区)独立结构。测试区为静止式工作室,样品固定不动,通过篮筐机构将高温槽和低温槽的冷热气流高效、无干扰地送入测试区,实现温度冲击。这种结构避免了样品移动带来的机械应力损伤,尤其适合精密、易损的PCB板测试。箱体采用超厚高强度 SUS304#不锈钢板,中间填充高强度聚氨酯发泡,确保绝热性能。核心制冷与加热部件均布局于箱体下部,结构紧凑合理。
其工作基于高温蓄热与低温蓄冷的静态冲击原理。预热区和预冷区在测试前分别持续维持在高低温设定值(如+150°C / -65°C)。测试开始时,待测样品静止于测试区,一套高性能气动风门在数秒内迅速完成切换,将预先储备好的高温或低温气流通过特殊设计的通道强力送入测试区,使样品温度在极短时间内发生剧烈变化。待达到设定的暴露时间后,风门再次切换,进行反方向冲击,从而实现精确、快速的温度循环转换。
无损冲击:三箱静态冲击技术,测试过程中样品篮无需移动,杜绝了因机械运动对样品连接线及本身造成的潜在物理损伤,测试结果更真实可信。
恢复时间超快:得益于高效的蓄热蓄冷设计和高性能风门切换系统,设备温度恢复时间极短(通常≤5分钟),确保每个测试周期的温度条件都能准确施加于样品上,严格符合测试规范。
全程监控与追溯:配置7/24小时不间断记录的温度传感器和软件系统,实时监测试验箱内的温度变化曲线,所有测试数据可追溯,并自动生成报告,为失效分析提供精确数据支撑。
测试一致性高:独立的预热预冷腔室避免了冷热互扰,确保了每次温度冲击的起始条件一致,测试重复性和再现性(GR&R)。
超长使用寿命:核心部件如法国“泰康"或德国“比泽尔"压缩机、日本“CKD"气动元件、芬兰“佳乐"传感器的选用,确保了整机在长期严苛工况下的运行稳定性和超长寿命。
超低运行成本:蓄冷蓄热式设计,仅在准备阶段需要压缩机和工作至设定温度,冲击过程中压缩机无需工作,相比传统移动吊篮式,能耗大幅降低,节能。
人机交互:配备超大尺寸高清触摸屏,图形化界面,操作逻辑清晰,可存储上百组试验程序,支持U盘一键导出历史数据。
安全保障:具备多重硬件级安全保护(压缩机超压/过热、样品超温、电源缺相逆相、鼓风电机过流等),并设有独立的超温保护器,为无人值守的长期测试提供安全保障。
定制化服务:可根据客户特殊测试标准(如IPC-TM-650、JESD22-A104E)定制测试流程,并提供多种尺寸的测试区容积选择,以满足从微小元器件到大型PCBA组件的不同测试需求。