产品说明:

1、可程式 两槽式冷热冲击测试箱应用于半导体器件、电子产品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。

2、立式两箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录，设有多种安全保护措施及装置。

3、满足 MIL-STD-810D方法 032、 GB2423.22-89Na、 GJB1505-86等。

温湿度电热循环系统

1.电热循环系统：湿度采特殊防潮兼散热设计,不锈钢加长轴心循环马达。

2.循环风扇：耐高/低温铝合金多翼式循环风扇。

3.导风板设计：可程式 两槽式冷热冲击测试箱有导风板设计,有效提升温、湿度分布均匀性。

4.温度电热器控制方式：平衡式调温 P.I.D + P.W.M + S.S.R。

5.湿度电热器控制方式：平衡式调湿 P.I.D + P.W.M + S.S.R 主副双型湿度电热。

执行标准:

GB10589-2006 低温试验箱技术条件

GB10592-2006-40℃高低温实验箱技术条件

GB11158-2006 高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001 试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-2001 试验B：高温试验方法

GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法