当前位置:首页  >  产品展示  >  冷热冲击试验箱  >  两槽式冷热冲击试验箱  >  TSD-100F-2P可程式 两槽式冷热冲击测试箱

可程式 两槽式冷热冲击测试箱
参考价:¥118500

型号:TSD-100F-2P

更新时间:2024-12-23  |  阅读:297

详情介绍

可程式 两槽式冷热冲击测试箱

产品说明:

1、应用于半导体器件、电子产品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。

2、立式两箱结构,高低温箱循环过程自动控制,停留及转换时间可调,不锈钢内胆,多形式记录,设有多种安全保护措施及装置。

3、满足 MIL-STD-810D方法 032、 GB2423.22-89Na、 GJB1505-86等。

可程式 两槽式冷热冲击测试箱

温 湿 度 电 热 循 环 系 统

1.电热循环系统:湿度采特殊防潮兼散热设计,不锈钢加长轴心循环马达。


2.循环风扇:耐高/低温铝合金多翼式循环风扇。


3.导风板设计:导风板设计,有效提升温、湿度分布均匀性。


4.温度电热器控制方式:平衡式调温 P.I.D + P.W.M + S.S.R。


5.湿度电热器控制方式:平衡式调湿 P.I.D + P.W.M + S.S.R 主副双  型湿度电热。


执行标准:

GB10589-2006 低温试验箱技术条件

GB10592-2006-40℃高低温实验箱技术条件

GB11158-2006 高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001 试验A:低温试验方法

GB/T2423.2-2001 试验B:高温试验方法

GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法

  • * 姓名:

  • * 电话:

  • * 单位:

  • * 验证码:

  • * 留言内容:

电话 询价

产品目录