可编程 快速温变老化试验箱

简介

1、快速温变试验箱主要用于考察产品热机械性能引起的失效，温度变化率一般小于20℃/分钟，实现以较快的速度真实再现所测样件应用环境条件。当构成产品各部件的材料热匹配较差，或部件内应力较大时，温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。

可编程 快速温变老化试验箱

型号：TEB-225PF

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW

符合标准

1、GB/T5170.2-2008 《温度试验设备》；

2、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低温试验方法Ab》；

3、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低温试验方法Bb》；

4、IEC 60068-2-14 2009 《环境试验.第2-14部分试验.试验N温度的改变》。