半导体器件快速温变试验箱

一、 产品概述
快速温变试验箱是专为半导体、集成电路（IC）、芯片等电子元器件进行环境应力筛选（ESS）和可靠性测试而设计的设备。它通过在短时间内实现极快的升温和降温速率，模拟温度变化条件，有效激发产品潜在缺陷，确保其耐久性与可靠性。

二、 设备亮点

• 温变速率：高可达25°C/min及以上，大幅缩短测试周期，提高筛选效率。

• 精准温度控制：采用控制算法，确保箱内温度均匀稳定，避免温度过冲，保障测试样品安全。

• 可靠的半导体测试专用设计：针对半导体测试中可能产生的静电进行优化，具备防静电设计，并确保在快速温变过程中不会对精密器件产生机械应力损伤。

• 人性化智能操作：大型彩色触摸屏，支持多组程序编辑与链接，具备远程监控和数据导出功能，操作简便。

三、 工作原理
设备核心工作原理基于一套复叠式制冷系统（通常用于低温）和高温加热系统。在控制器指令下，通过调节制冷剂流量与加热器功率，结合高流量气流循环系统，将经过处理的热空气或冷空气强制吹入测试区，从而实现测试箱内温度的快速、线性变化。

半导体器件快速温变试验箱

四、 技术参数

• 温度范围：-70°C ~ +150°C（或根据需求定制）

• 温变速率：5°C/min ~ 25°C/min（可在指定温度区间内线性设定，如-40°C ~ +85°C）

• 温度波动度：≤±0.5°C

• 温度均匀度：≤±2.0°C

• 内箱容积：标准100L~1000L（可定制）

• 控制器：全彩触摸屏PLC控制器，支持程序编辑和数据记录

• 制冷方式：机械式复叠制冷/液氮辅助制冷（超高速）

• 外壳材料：优质冷轧钢板，表面喷塑处理

五、 主要用途
主要用于对半导体器件进行环境应力筛选（ESS）、高加速寿命测试（HALT）、高加速应力筛选（HASS） 以及温度循环测试（TCT）。其目的是在研发阶段发现产品设计缺陷，在生产阶段剔除早期故障产品，从而提高产品整体良品率和长期使用可靠性。

六、 应用领域

• 半导体行业：CPU、GPU、MCU、存储器芯片（DRAM, NAND Flash）、功率器件（IGBT, MOSFET）等的测试。

• 集成电路设计与封装：SoC、SiP、封装芯片。

• 汽车电子：发动机控制单元（ECU）、自动驾驶传感器、车载信息娱乐系统等车规级芯片。

• 航空航天与电子：对可靠性要求航天级、军规级半导体元件。

• 通信设备：5G基站芯片、光通信模块、网络处理芯片。

七、 满足标准
该设备严格遵循并满足以下国际、国家及行业标准：

• MIL-STD-883J（微电子器件试验方法）

• JESD22-A104G（温度循环）

• GJB 548B-2005（微电子器件试验方法和程序）

• IEC 60068-2-14（环境试验 第2-14部分：试验N：温度变化）

• GB/T 2423.22（环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化）

八、 产品优势

1. 高效率和低成本：极快的温变速率能成倍提高测试效率，加速产品上市周期，并降低单件测试成本。

2. 高可靠性与耐用性：核心部件（如压缩机、循环风机）均采用国际品牌，确保设备能够承受长期、高强度的应力测试运行。

3. 产品质量提升：通过严苛的筛选，能有效剔除有潜在缺陷的半导体产品，大幅提升出厂产品的质量与市场竞争力。

4. 完善的服务支持：提供从方案设计、安装调试到技术培训、售后维护的全流程服务，为客户解决后顾之忧。