当前位置:首页 > 产品展示 > 冷热冲击试验箱 > 两槽式冷热冲击试验箱 > TSD-225F-2P两箱式冷热冲击试验箱 运行稳定低故障
详情介绍
两箱式冷热冲击试验箱是一款用于测试产品在瞬间下经高温及极低温的连续环境下所能忍受程度的精密环境试验设备。其核心设计理念是通过吊篮或提篮机构,将测试样品在高温箱和低温箱之间快速移动,实现最严酷的温度冲击效果。该设备以其“运行稳定低故障"的可靠性而著称,是保障产品质量、提升可靠性的关键测试工具。
该设备主要用于发现产品因材料热胀冷缩系数不同、组装应力或内部结构问题而引发的潜在缺陷。它模拟产品在运输、储存、使用过程中可能遇到的温度变化环境,是评估产品可靠性和耐久性的重要试验方法,广泛应用于产品质量控制、型式试验、例行试验等领域。
温度范围:高温箱:+60℃ ~ +200℃(或更高);低温箱:-10℃ ~ -65℃(或更低)
温度波动度:≤±0.5℃
温度偏差:≤±2.0℃
预热/预冷上限温度:高温箱可达+200℃,低温箱可达-75℃
试验方式:吊篮(提篮)式两箱法
温度恢复时间:5分钟内完成温度恢复(依标准负载而定)
暴露时间:各30分钟以上(可设定)
转换时间:<10秒(试样从高温到低温或反之的切换时间,试验箱内温度稳定时间另计)
设备主要由箱体、高温储热区、低温储冷区、吊篮移动机构、制冷系统、加热系统、智能控制系统及安全保护系统构成。箱体采用高品质不锈钢板,中间填充高强度保温材料。高温区和低温区相互独立,通过高性能风机实现内部循环。吊篮机构由优质电机驱动,确保移动平稳、定位精确。
工作时,高温箱和低温箱分别持续保持在设定的温度。测试样品放置在吊篮中。当开始测试时,吊篮根据预设程序,在控制系统指令下,快速将样品从高温区移动到低温区,或从低温区移动到高温区,使样品在瞬间暴露于温度急剧变化的环境中,从而完成温度冲击测试。
运行稳定低故障:采用核心部件(如压缩机、循环风机、控制器),经过严格筛选和测试,确保设备长期连续稳定运行,平均时间长。
高效快速转换:吊篮移动机构迅捷可靠,转换时间极短,确保温度冲击的严酷性和有效性。
精准温度控制:采用PID智能控制算法,确保高温区和低温区的温度控制精度和均匀性。
人性化操作:大型触摸屏人机界面,程序编辑简单直观,可存储多组程序,自动运行。
多重安全保护:具备超温、漏电、过流、缺相、压缩机超压/过载等多重报警和保护功能,保障设备与人员安全。
特别适用于电子元器件(IC、芯片、PCB板)、通信产品(手机、基站)、汽车零部件、航空航天产品、新材料、LED等行业,是这些领域产品质量控制和可靠性试验的设备。
其最核心的技术特点是实现了温度变化率和极短的温度恢复时间,同时在频繁的急冷急热应力冲击下,凭借坚固的机械结构、匹配的制冷/加热功率和智能的控制逻辑,确保了整机“运行稳定低故障"的性能,极大降低了用户的维护成本和停机风险。