当前位置:首页 > 产品展示 > 冷热冲击试验箱 > 两槽式冷热冲击试验箱 > TSD -100F-2F两箱式冷热冲击试验箱 温度恢复时间短
详情介绍
两箱式冷热冲击试验箱由高温室、低温室及样品提篮组成,通过提篮快速移动切换测试环境。该设备以“温度恢复时间短"为核心优势,可在10秒内完成冲击,3~5分钟内恢复至设定温度,极大提高测试效率与一致性。整体结构紧凑,操作安全,适用于各类材料、电子、汽车部件等领域的环境可靠性测试。
主要用于考核产品在温差条件下抵抗热冲击及抗热疲劳的能力。常用于电子元器件、PCB板、IC芯片、LED、汽车零部件、金属材料、涂层、塑胶等产品的快速温变应力筛选,帮助发现产品在制造或使用中潜在的结构缺陷与性能退化问题。
温度范围:高温室+60℃~+200℃,低温室-70℃~0℃
冲击方式:两箱式气动提篮移动
温度恢复时间:≤5分钟(负载条件下)
冲击切换时间:≤10秒
温度均匀度:≤±2℃
温度波动度:≤±0.5℃
样品承重:5kg~50kg(依型号)
控制方式:7寸触摸屏+PLC可编程控制
外箱采用冷轧钢板喷塑处理,内箱为SUS304不锈钢,耐腐蚀、易清洁。高温室与低温室上下或左右布局,中间设气动提篮组件。箱体填充高密度玻璃纤维保温层,厚度≥100mm。观察窗采用三层真空钢化玻璃并带发热丝防止凝露。配备电缆测试孔、照明灯及安全门锁。
将样品置于可移动提篮中,初始停留在高温室或低温室。控制器发出冲击指令后,气动驱动提篮快速移动至另一温室,样品瞬间暴露于反向温度环境。通过高速循环控制与高效蓄冷系统,使得温度在极短时间内恢复稳定,从而模拟产品在冷热交替环境中的失效模式。
GB/T 2423.22(IEC 60068-2-14)试验N:温度变化
GJB 150.5A 温度冲击试验
MIL-STD-810F 温度冲击方法
JIS C 60068-2-14
GB/T 5170.2 温度试验设备检定方法
广泛应用于半导体、通信设备、汽车电子、新能源电池、智能穿戴、光伏组件、化工材料、涂层与镀层行业等对温度冲击敏感的产品研发与质量验证环节。
温度恢复极快:优化风道与蓄冷系统,恢复时间≤5分钟,优于普通机型。
冲击切换迅速:提篮移动≤10秒,实现真实温度骤变效应。
节能设计:低温室蓄冷式运行,较传统机型节能约30%。
操作安全:防结霜观察窗、超温保护、缺相与过载保护、提篮防坠落装置。
智能控制:支持定值/程式运行,可记录曲线并导出数据。




