当前位置:首页 > 产品展示 > 冷热冲击试验箱 > 两槽式冷热冲击试验箱 > TSD-100F-2P高精度冷热冲击箱 温度转换速率可调
详情介绍
设备主要用于评估电工电子产品、元器件、材料及其组装件在遭遇骤然温度变化时的物理、化学性能变化及结构耐受性。其核心目的是进行环境应力筛选(ESS) 和加速寿命测试(ALT),以剔除早期故障产品,验证产品的设计极限与制造工艺。
温度范围:高温箱可达+150℃ ~ +200℃;低温箱可达-65℃ ~ -10℃(或定制-80℃)。
温度转换速率:高温→低温或低温→高温的转换时间通常可调,快可达10秒以内(样品从高温区移至低温区或反之的时间,非箱内空气温度变化率)。温度恢复时间(测试区恢复至设定温度)通常在5分钟内。
温度波动度:≤±0.5℃。
温度均匀度:≤±2.0℃。
样品篮尺寸:可根据需求定制,常见如(深×宽×高)350×400×400mm。
控制系统:彩色触摸屏PLC或真彩LCD控制器,可存储多条程序,具备USB数据记录功能。
结构形式:采用三箱式(预冷箱、预热箱、测试箱)静态型或两箱式(吊篮式)动态型设计。前者样品不动,气流切换;后者通过移动样品篮实现温区切换。
内箱材质:采用SUS304高级不锈钢板,耐腐蚀、耐高低温且光洁易清洁。
外箱材质:优质冷轧钢板,表面经静电喷涂处理,或采用不锈钢板。
保温层:高强度聚氨酯发泡或超细玻璃棉,确保隔热性能。
密封:双道硅橡胶密封条,保证箱体在高低温环境下的良好气密性。
研发阶段:用于新产品的设计验证,发现设计缺陷。
品质鉴定:对批量生产前的样品进行可靠性认证。
产线筛选:在生产线上对关键元器件或成品进行100%筛选,剔除瑕疵品。
失效分析:当产品出现温度相关故障时,用于复现和分析失效原因。
高精度与快速转换:采用制冷与加热技术,配合高效气流设计,确保温度控制的精确性和极快的温区转换速率。
可靠性与耐久性:关键部件如压缩机、循环风机、电磁阀均采用国际品牌,确保设备长期稳定运行。
智能控制:用户友好的编程界面,支持多段复杂程式运行,具备故障自诊断、安全连锁保护(超温、过载、缺相)等功能。
灵活性:温度转换速率、停留时间等参数可根据测试标准(如IEC 60068-2-14, GJB 150.5等)灵活设定,满足不同严苛等级测试需求。
广泛应用于对可靠性要求行业,包括:
航空航天:机载设备、卫星部件的环境适应性测试。
汽车电子:发动机控制单元(ECU)、传感器、电池管理系统在温差下的可靠性验证。
半导体与集成电路:芯片、封装、PCB板的温度循环耐久性测试。




