当前位置:首页 > 产品展示 > > HAST加速老化试验箱 > HAST非饱和老化测试箱
详情介绍
非饱和老化测试箱,全称高加速非饱和蒸汽应力试验箱,是一种用于评估电子元器件、半导体封装及高分子材料在高温、高湿、高压环境下可靠性的测试设备。与传统饱和型HAST不同,非饱和技术通过精确控制蒸汽压力与温度,避免测试过程中产生凝露,从而更真实地模拟实际使用环境,同时防止产品因水滴附着而发生短路或物理损伤。
设备内胆采用优质SUS316L不锈钢,耐腐蚀性强;门体配备防爆安全锁与多重压力保护系统,确保长时间高压测试的安全性。控制系统采用7英寸彩色触摸屏与可编程逻辑控制器,支持多段温湿度曲线设定及实时数据记录。
本设备主要用于评估IC封装、MEMS传感器、LED、PCB板及光伏组件等在高温高湿高压条件下的耐候性与寿命。通过加速环境应力,帮助制造商快速发现产品潜在的失效模式,如分层、腐蚀、电化学迁移及密封失效等。
温度范围:+105℃ ~ +142.9℃
湿度范围:75%RH ~ 98%RH(非饱和状态)
压力范围:0.2kg/cm² ~ 3.0kg/cm²
温湿度均匀度:±0.5℃ / ±3%RH
内箱材质:SUS316L镜面不锈钢
控制系统:PLC + 7英寸HMI彩色触摸屏
安全保护:防爆泄压阀、超温保护、缺水报警、门锁联锁
非饱和控制技术:精准控制蒸汽饱和度,避免凝露对样品的物理损伤。
偏压测试功能:可选配偏压测试系统,在线监测样品在应力下的电性能变化。
多段编程:支持100组程序,每组100段,满足复杂测试需求。
数据追溯:标配USB接口与RS485通讯,支持历史数据导出与远程监控。
应用场景
半导体封装厂新品研发阶段的寿命评估
PCB/PCBA行业可靠性验证与失效分析
高校材料实验室高分子材料吸湿与膨胀测试
第三方检测机构JEDEC标准符合性认证
防凝露结构设计:独特的蒸汽循环路径,保证样品表面干燥。
快速恢复系统:开门取放样品后,温湿度可在5分钟内恢复设定值。
安全冗余设计:机械式与电子式双重超压保护,确保长期无人值守运行。



