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HAST高压高湿老化箱是一款专为电子元器件加速寿命试验设计的高加速应力试验设备。该设备采用圆型压力容器结构,内箱采用SUS304/SUS316不锈钢材质,双层圆弧设计可有效防止试验结露滴水现象。配备7寸真彩触控屏,支持250组12500段程序设定,具备USB数据导出及RS-485通讯接口。整机符合GB/T2423.40、IEC60068-2-66、JESD22-A110等国际测试标准。
本设备主要用于IC封装、半导体、微电子芯片、磁性材料、PCB线路板等电子零件进行高温、高湿、高压环境下的加速寿命信赖性试验。通过模拟严苛的温湿度压力环境,快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其密封性能和老化的可靠性。
温度范围:+105℃~+145℃(蒸气温度)
湿度范围:65%~100%RH(可调)
压力范围:0.5~3.0Kg/cm²(表压力)
温度波动度:±0.5℃
湿度波动度:±2.0%~±2.5%RH
升温时间:常温至132℃约35分钟
升压时间:常压至2Kg/cm²约40分钟
控制器:微电脑PID+SSR自动演算,触摸屏控制
高稳定性温湿度控制:采用干湿球传感器直接测量,控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和3种模式,确保试验参数的精准性和再现性。
防结露圆弧内胆:内胆采用双层圆弧设计,防止试验结露滴水,避免产品受过热蒸汽直接冲击。
全自动补水系统:试验开始时自动加足所需用水,水位过低时自动补水,确保试验不中断。
多重安全保护:具备超压超温保护、干烧保护、缺水报警、紧急泄压等多重安全机制。
缓降压处理:试验结束后可选排气排水模式,防止样件受到急剧压力变化影响。
高效真空泵:使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。
汽车级硅胶密封条:气密性好,内箱压力愈大时密封愈紧密,使用寿命长。
偏压测试功能(选配):可配置8~55条偏压端子,满足带偏压的HAST试验需求。
干燥功能:试验终止采用电热干燥设计,确保待测品干燥稳定。
数据追溯:USB接口直接拷贝历史曲线和数据,便于分析。
应用场景:适用于产品设计阶段的缺陷暴露、量产阶段的可靠性抽检、失效分析研究以及质量认证测试。
应用领域:广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、光伏组件、LED光电、MEMS传感器等行业。



