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二箱式冷热冲击试验箱
参考价:¥145800

型号:TSD-80F-2F

更新时间:2024-12-21  |  阅读:282

详情介绍

二箱式冷热冲击试验箱

用途:

冷热冲击试验箱为材料研究及I业生产厂家的批量或者电子电器零部件、自动化零部件、 半成品、金属、化学材料、通讯元件、国防工业、航天、 工业、BGA、PCB基扳电子芯片、IC、 半导体、陶磁及份子材料或复合材料之物理牲变化提供了温度突变严酷温度环境测试条件,测试其在瞬间经高温、低温的连续温度变化环境下所能忍受的程度,试验其在急遽变化的温差条件下热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害。可作为产品改进的依据或参考,及产品可靠性的鉴定测试。

二箱式冷热冲击试验箱

用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度,适用于科研、质检计量、学校、工

厂等单位用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验,通

过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

控制系统:

1、温度控制器采用*韩国TEMP880彩色触摸式智能可程序温度控制器,程式编辑容易,荧幕操作简单。

2、温度显示0. 1°C,解析度土0. 1C。

3、中英文液晶显LCD触摸式面板,画面对谈式输入数据,温度可程控。

4、具有自动演算的功能,可将温湿度变化条件立即修正,使温湿度控制更为精确稳定。

5、控制器具有荧屏自动屏保功能,在长时间运行状态下更好的保护液晶屏使其寿命更长久。

6、主要电器均采用(施耐德)系列产品温度控制采用P. 1. D+S. S. R系统同频道协调控制。

7、资料及试验条件输入后,控制器具有荧屏锁定功能,避免人为触摸而停机。

8、具有RS-232或RS- 485远程通讯界面,可在电脑上设计程式,监视试验过程并执行自动开关机。

控制系统:

采用黑板温度仪表控制加热,温度更稳定。辐射计探头(选配件)采用固定式,无须每次装卸。

辐射量采用高精度显示和测量的紫外线辐照计。

辐照度不大于2W/㎡。

光照和冷凝可独立控制可以交替循环控制。

光照和冷凝的独立控制时间和交替循环控制的时间可在一千小时内任意设置。

自动检测紫外灯的亮灯状态,并直观显示哪一排第几个。

可实现手动调节辐照度和自动调节辐照度。

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